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• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
  详细描述：Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC
  
  型号：SN74BCT8240ADW
  仓库库存编号：296-33846-5-ND
  别名：296-33846-5
  SN74BCT8240ADW-ND
  SN74BCT8240ADWE4
  SN74BCT8240ADWE4-ND
  SN74BCT8240ADWG4
  SN74BCT8240ADWG4-ND
  
  产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带反相缓冲器,
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• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
  详细描述：Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC
  
  型号：SN74BCT8240ADWR
  仓库库存编号：SN74BCT8240ADWR-ND
  
  产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带反相缓冲器,
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• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
  详细描述：Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC
  
  型号：SN74BCT8240ADWRE4
  仓库库存编号：SN74BCT8240ADWRE4-ND
  
  产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带反相缓冲器,
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• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
  详细描述：Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-PDIP
  
  型号：SN74BCT8240ANT
  仓库库存编号：SN74BCT8240ANT-ND
  
  产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带反相缓冲器,
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• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
  详细描述：Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-PDIP
  
  型号：SN74BCT8240ANTG4
  仓库库存编号：SN74BCT8240ANTG4-ND
  别名：SN74BCT8240ANTE4
  SN74BCT8240ANTE4-ND
  
  产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带反相缓冲器,
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• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
  详细描述：Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC
  
  型号：SN74BCT8240ADWRG4
  仓库库存编号：SN74BCT8240ADWRG4-ND
  
  产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带反相缓冲器,
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