以下搜索结果

• 参考图片
• 制造商 / 描述 / 型号 / 仓库库存编号 / 别名
• PDF
• 操作

• 
  
• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
  详细描述：Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC
  
  型号：SN74BCT8244ADW
  仓库库存编号：SN74BCT8244ADW-ND
  别名：SN74BCT8244ADWG4
  SN74BCT8244ADWG4-ND
  
  产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带缓冲器,
• 无铅
• 搜索

• 
  
• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
  详细描述：Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC
  
  型号：SN74BCT8244ADWE4
  仓库库存编号：SN74BCT8244ADWE4-ND
  
  产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带缓冲器,
• 无铅
• 搜索

• 
  
• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
  详细描述：Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC
  
  型号：SN74BCT8244ADWR
  仓库库存编号：SN74BCT8244ADWR-ND
  别名：SN74BCT8244ADWRE4
  SN74BCT8244ADWRE4-ND
  SN74BCT8244ADWRG4
  SN74BCT8244ADWRG4-ND
  
  产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带缓冲器,
• 无铅
• 搜索

• 
  
• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
  详细描述：Scan Test Device with Buffers IC 24-PDIP
  
  型号：SN74BCT8244ANT
  仓库库存编号：296-33847-5-ND
  别名：296-33847-5
  SN74BCT8244ANT-ND
  
  产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带缓冲器,
• 无铅
• 搜索

• 
  
• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
  详细描述：Scan Test Device with Buffers IC 24-PDIP
  
  型号：SN74BCT8244ANTG4
  仓库库存编号：SN74BCT8244ANTG4-ND
  别名：SN74BCT8244ANTE4
  SN74BCT8244ANTE4-ND
  
  产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带缓冲器,
• 无铅
• 搜索