产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
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制造商 / 描述 / 型号 / 仓库库存编号 / 别名
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8652DW
仓库库存编号：
296-33634-5-ND
别名：296-33634-5
SN74ABT8652DW-ND
SN74ABT8652DWE4
SN74ABT8652DWE4-ND
SN74ABT8652DWG4
SN74ABT8652DWG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceivers IC 24-SOIC
型号：
SN74ABT8245DWR
仓库库存编号：
296-14679-1-ND
别名：296-14679-1
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceivers IC 56-TSSOP
型号：
SN74ABT18245ADGGR
仓库库存编号：
296-3937-1-ND
别名：296-3937-1
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP
型号：
SN74ABT8646DL
仓库库存编号：
296-4112-5-ND
别名：296-4112-5
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8646DW
仓库库存编号：
296-4113-5-ND
别名：296-4113-5
SN74ABT8646DWE4
SN74ABT8646DWE4-ND
SN74ABT8646DWG4
SN74ABT8646DWG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceivers IC 56-SSOP
型号：
SN74ABT18245ADLR
仓库库存编号：
296-3938-1-ND
别名：296-3938-1
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC
详细描述：Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8543DW
仓库库存编号：
296-4108-5-ND
别名：296-4108-5
SN74ABT8543DWE4
SN74ABT8543DWE4-ND
SN74ABT8543DWG4
SN74ABT8543DWG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers IC 56-SSOP
型号：
SN74ABT18640DL
仓库库存编号：
296-3942-5-ND
别名：296-3942-5
SN74ABT18640DLG4
SN74ABT18640DLG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP
型号：
SN74ABT8652DL
仓库库存编号：
296-4114-5-ND
别名：296-4114-5
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
详细描述：Scan Test Device with Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
型号：
SN74ABT18504PM
仓库库存编号：
296-3940-ND
别名：296-3940
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
详细描述：Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
型号：
SN74ABT18652PM
仓库库存编号：
296-3944-ND
别名：296-3944
SN74ABT18652PMG4
SN74ABT18652PMG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
详细描述：Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
型号：
SN74ABT18646PM
仓库库存编号：
296-3943-ND
别名：296-3943
SN74ABT18646PMG4
SN74ABT18646PMG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
详细描述：Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 64-LQFP (10x10)
型号：
SN74ABT18502PM
仓库库存编号：
296-3939-ND
别名：296-3939
SN74ABT18502PMG4
SN74ABT18502PMG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SSOP
型号：
SN74ABT8543DL
仓库库存编号：
296-4107-5-ND
别名：296-4107-5
SN74ABT8543DLG4
SN74ABT8543DLG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP
型号：
SN74ABT8646DLR
仓库库存编号：
SN74ABT8646DLR-ND
别名：SN74ABT8646DLRG4
SN74ABT8646DLRG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP
型号：
SN74ABT8646DLG4
仓库库存编号：
SN74ABT8646DLG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP
型号：
SN74ABT8652DLG4
仓库库存编号：
SN74ABT8652DLG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
详细描述：Scan Test Device with Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
型号：
SN74ABT18504PMG4
仓库库存编号：
SN74ABT18504PMG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
详细描述：Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 64-LQFP (10x10)
型号：
SN74ABT18502PMR
仓库库存编号：
SN74ABT18502PMR-ND
别名：SN74ABT18502PMRG4
SN74ABT18502PMRG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
详细描述：Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers IC 56-TSSOP
型号：
SN74ABT18640DGGR
仓库库存编号：
296-3941-1-ND
别名：296-3941-1
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24TSSOP
详细描述：Addressable Scan Ports IC 24-TSSOP
型号：
SN74ABT8996PWR
仓库库存编号：
296-4118-1-ND
别名：296-4118-1
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
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Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SSOP
型号：
SN74ABT8952DL
仓库库存编号：
296-4115-5-ND
别名：296-4115-5
SN74ABT8952DLG4
SN74ABT8952DLG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC
详细描述：Addressable Scan Ports IC 24-SOIC
型号：
SN74ABT8996DWR
仓库库存编号：
296-4117-1-ND
别名：296-4117-1
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Fairchild/ON Semiconductor
TXRX W/GENERATOR&CHECKER 28SOIC
详细描述：Parity Generator/Checker IC 28-SOIC
型号：
74ABT899CSCX
仓库库存编号：
74ABT899CSCX-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Fairchild/ON Semiconductor
TXRX W/GENERATOR&CHECKER 28SSOP
详细描述：Parity Generator/Checker IC 28-SSOP
型号：
74ABT899CMSA
仓库库存编号：
74ABT899CMSA-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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