产品分类:测试夹 - IC,规格:类型 SOIC,0.30" 主体,
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制造商 / 描述 / 型号 / 仓库库存编号 / 别名
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16-PIN TEST CLIP ALLOY SOIC .30"
型号:
923660-16
仓库库存编号:
923660-16-ND
别名:5400780099
54007800996
80-6103-3606-9
80610336069
923660-16-I
92366016
产品分类:测试夹 - IC,规格:类型 SOIC,0.30" 主体,
无铅
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3M
16-PIN TEST CLIP GOLD SOIC .30"
型号:
923665-16
仓库库存编号:
923665-16-ND
别名:5400780112
54007801122
80-6103-3611-9
80610336119
923665-16-I
92366516
产品分类:测试夹 - IC,规格:类型 SOIC,0.30" 主体,
无铅
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3M
28-PIN TEST CLIP GOLD SOIC .30"
型号:
923665-28
仓库库存编号:
923665-28-ND
别名:5400780116
54007801160
80-6103-3615-0
80610336150
923665-28-I
92366528
产品分类:测试夹 - IC,规格:类型 SOIC,0.30" 主体,
无铅
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3M
18-PIN TEST CLIP ALLOY SOIC .30"
型号:
923660-18
仓库库存编号:
923660-18-ND
别名:5400780100
54007801009
80-6103-3607-7
80610336077
923660-18-I
92366018
产品分类:测试夹 - IC,规格:类型 SOIC,0.30" 主体,
无铅
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3M
18-PIN TEST CLIP GOLD SOIC .30"
型号:
923665-18
仓库库存编号:
923665-18-ND
别名:5400780113
54007801139
80-6103-3612-7
80610336127
923665-18-I
92366518
产品分类:测试夹 - IC,规格:类型 SOIC,0.30" 主体,
无铅
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3M
20-PIN TEST CLIP ALLOY SOIC .30"
型号:
923660-20
仓库库存编号:
923660-20-ND
别名:5400780101
54007801016
80-6103-3608-5
80610336085
923660-20-I
92366020
产品分类:测试夹 - IC,规格:类型 SOIC,0.30" 主体,
无铅
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3M
20-PIN TEST CLIP GOLD SOIC .30"
型号:
923665-20
仓库库存编号:
923665-20-ND
别名:5400780114
54007801146
80-6103-3613-5
80610336135
923665-20-I
92366520
产品分类:测试夹 - IC,规格:类型 SOIC,0.30" 主体,
无铅
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3M
28-PIN TEST CLIP ALLOY SOIC .30"
型号:
923660-28
仓库库存编号:
923660-28-ND
别名:5400780103
54007801030
80-6103-3610-1
80610336101
923660-28-I
92366028
产品分类:测试夹 - IC,规格:类型 SOIC,0.30" 主体,
无铅
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24-PIN TEST CLIP GOLD SOIC .30"
型号:
923665-24
仓库库存编号:
923665-24-ND
别名:5400780115
54007801153
80-6103-3614-3
80610336143
923665-24-I
92366524
产品分类:测试夹 - IC,规格:类型 SOIC,0.30" 主体,
无铅
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24-PIN TEST CLIP ALLOY SOIC .30"
型号:
923660-24
仓库库存编号:
923660-24-ND
别名:5400780102
54007801023
80-6103-3609-3
80610336093
923660-24-I
92366024
产品分类:测试夹 - IC,规格:类型 SOIC,0.30" 主体,
无铅
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