PMN34UN,135,NXP USA Inc.,分立半导体产品,晶体管 - FET,MOSFET - 单
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PMN34UN,135
PMN34UN,135 -
MOSFET N-CH 30V 4.9A 6TSOP
已过时的产品。
声明:图片仅供参考,请以实物为准!
制造商:
NXP USA Inc.
NXP USA Inc.
制造商产品编号:
PMN34UN,135
仓库库存编号:
568-7420-1-ND
描述:
MOSFET N-CH 30V 4.9A 6TSOP
ROHS:
无铅 / 符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求
湿气敏感性等级(MSL):
1(无限)
详细描述:
表面贴装 N 沟道 30V 4.9A(Tc) 1.75W(Tc) 6-TSOP
订购热线:
400-900-3095 0755-21000796, QQ:
800152669
, Email:
sales@szcwdz.com
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PMN34UN,135产品属性
产品规格
封装/外壳
SC-74,SOT-457
制造商
NXP USA Inc.
安装类型
表面贴装
工作温度
-55°C ~ 150°C(TJ)
系列
TrenchMOS??
包装
剪切带(CT)
零件状态
过期
供应商器件封装
6-TSOP
技术
MOSFET(金属氧化物)
Vgs(最大值)
±8V
不同 Vgs 时的栅极电荷?(Qg)(最大值)
9.9nC @ 4.5V
不同?Id,Vgs 时的?Rds On(最大值)
46 毫欧 @ 2A,4.5V
驱动电压(最大 Rds On,最小 Rds On)
1.8V,4.5V
FET 类型
N 沟道
电流 - 连续漏极(Id)(25°C 时)
4.9A(Tc)
不同 Vds 时的输入电容(Ciss)(最大值)
790pF @ 25V
FET 功能
-
不同 Id 时的 Vgs(th)(最大值)
700mV @ 1mA
功率耗散(最大值)
1.75W(Tc)
漏源电压(Vdss)
30V
关键词
产品资料
数据列表
PMN34UN
标准包装
1
其它名称
568-7420-1
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封装/外壳 SC-74,SOT-457
NXP USA Inc. 封装/外壳 SC-74,SOT-457
晶体管 - FET,MOSFET - 单 封装/外壳 SC-74,SOT-457
NXP USA Inc. 晶体管 - FET,MOSFET - 单 封装/外壳 SC-74,SOT-457
制造商 NXP USA Inc.
NXP USA Inc. 制造商 NXP USA Inc.
晶体管 - FET,MOSFET - 单 制造商 NXP USA Inc.
NXP USA Inc. 晶体管 - FET,MOSFET - 单 制造商 NXP USA Inc.
安装类型 表面贴装
NXP USA Inc. 安装类型 表面贴装
晶体管 - FET,MOSFET - 单 安装类型 表面贴装
NXP USA Inc. 晶体管 - FET,MOSFET - 单 安装类型 表面贴装
工作温度 -55°C ~ 150°C(TJ)
NXP USA Inc. 工作温度 -55°C ~ 150°C(TJ)
晶体管 - FET,MOSFET - 单 工作温度 -55°C ~ 150°C(TJ)
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系列 TrenchMOS??
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晶体管 - FET,MOSFET - 单 系列 TrenchMOS??
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包装 剪切带(CT)
NXP USA Inc. 包装 剪切带(CT)
晶体管 - FET,MOSFET - 单 包装 剪切带(CT)
NXP USA Inc. 晶体管 - FET,MOSFET - 单 包装 剪切带(CT)
零件状态 过期
NXP USA Inc. 零件状态 过期
晶体管 - FET,MOSFET - 单 零件状态 过期
NXP USA Inc. 晶体管 - FET,MOSFET - 单 零件状态 过期
供应商器件封装 6-TSOP
NXP USA Inc. 供应商器件封装 6-TSOP
晶体管 - FET,MOSFET - 单 供应商器件封装 6-TSOP
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技术 MOSFET(金属氧化物)
NXP USA Inc. 技术 MOSFET(金属氧化物)
晶体管 - FET,MOSFET - 单 技术 MOSFET(金属氧化物)
NXP USA Inc. 晶体管 - FET,MOSFET - 单 技术 MOSFET(金属氧化物)
Vgs(最大值) ±8V
NXP USA Inc. Vgs(最大值) ±8V
晶体管 - FET,MOSFET - 单 Vgs(最大值) ±8V
NXP USA Inc. 晶体管 - FET,MOSFET - 单 Vgs(最大值) ±8V
不同 Vgs 时的栅极电荷?(Qg)(最大值) 9.9nC @ 4.5V
NXP USA Inc. 不同 Vgs 时的栅极电荷?(Qg)(最大值) 9.9nC @ 4.5V
晶体管 - FET,MOSFET - 单 不同 Vgs 时的栅极电荷?(Qg)(最大值) 9.9nC @ 4.5V
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不同?Id,Vgs 时的?Rds On(最大值) 46 毫欧 @ 2A,4.5V
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晶体管 - FET,MOSFET - 单 不同?Id,Vgs 时的?Rds On(最大值) 46 毫欧 @ 2A,4.5V
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驱动电压(最大 Rds On,最小 Rds On) 1.8V,4.5V
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FET 类型 N 沟道
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晶体管 - FET,MOSFET - 单 FET 类型 N 沟道
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电流 - 连续漏极(Id)(25°C 时) 4.9A(Tc)
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晶体管 - FET,MOSFET - 单 电流 - 连续漏极(Id)(25°C 时) 4.9A(Tc)
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不同 Vds 时的输入电容(Ciss)(最大值) 790pF @ 25V
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晶体管 - FET,MOSFET - 单 不同 Vds 时的输入电容(Ciss)(最大值) 790pF @ 25V
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FET 功能 -
NXP USA Inc. FET 功能 -
晶体管 - FET,MOSFET - 单 FET 功能 -
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不同 Id 时的 Vgs(th)(最大值) 700mV @ 1mA
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晶体管 - FET,MOSFET - 单 不同 Id 时的 Vgs(th)(最大值) 700mV @ 1mA
NXP USA Inc. 晶体管 - FET,MOSFET - 单 不同 Id 时的 Vgs(th)(最大值) 700mV @ 1mA
功率耗散(最大值) 1.75W(Tc)
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晶体管 - FET,MOSFET - 单 功率耗散(最大值) 1.75W(Tc)
NXP USA Inc. 晶体管 - FET,MOSFET - 单 功率耗散(最大值) 1.75W(Tc)
漏源电压(Vdss) 30V
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晶体管 - FET,MOSFET - 单 漏源电压(Vdss) 30V
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