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• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
  详细描述：Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
  
  型号：SN74BCT8374ADW
  仓库库存编号：296-33849-5-ND
  别名：296-33849-5
  SN74BCT8374ADW-ND
  SN74BCT8374ADWE4
  SN74BCT8374ADWE4-ND
  SN74BCT8374ADWG4
  SN74BCT8374ADWG4-ND
  
  产品分类：集成电路（IC）,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器,
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• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
  详细描述：Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
  
  型号：SN74BCT8374ADWR
  仓库库存编号：SN74BCT8374ADWR-ND
  
  产品分类：集成电路（IC）,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器,
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• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
  详细描述：Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
  
  型号：SN74BCT8374ADWRE4
  仓库库存编号：SN74BCT8374ADWRE4-ND
  
  产品分类：集成电路（IC）,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器,
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• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
  详细描述：Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
  
  型号：SN74BCT8374ANT
  仓库库存编号：SN74BCT8374ANT-ND
  
  产品分类：集成电路（IC）,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器,
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• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
  详细描述：Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
  
  型号：SN74BCT8374ANTG4
  仓库库存编号：SN74BCT8374ANTG4-ND
  别名：SN74BCT8374ANTE4
  SN74BCT8374ANTE4-ND
  
  产品分类：集成电路（IC）,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器,
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• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
  详细描述：Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
  
  型号：SN74BCT8374ADWRG4
  仓库库存编号：SN74BCT8374ADWRG4-ND
  
  产品分类：集成电路（IC）,规格：逻辑类型 扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器,
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