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• Texas Instruments
  IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：SN74LVTH182504APM
  仓库库存编号：296-8697-ND
  别名：296-8697
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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• Texas Instruments
  IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP
  
  型号：SN74LVTH182512DGGR
  仓库库存编号：296-8698-1-ND
  别名：296-8698-1
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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• Texas Instruments
  IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：SN74LVTH18504APMR
  仓库库存编号：296-14933-1-ND
  别名：296-14933-1
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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• Texas Instruments
  IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：SN74LVTH182502APMR
  仓库库存编号：296-29777-1-ND
  别名：296-29777-1
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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• Texas Instruments
  IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：SN74LVTH18502APMR
  仓库库存编号：296-14932-1-ND
  别名：296-14932-1
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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  IC 10-BIT SCAN PORT XCVR 24TSSOP
  详细描述：Addressable Scan Ports IC 24-TSSOP
  
  型号：SN74LVT8996PWR
  仓库库存编号：296-8657-1-ND
  别名：296-8657-1
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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• Texas Instruments
  IC LINK ADDRSS SCAN-PORT 64-LQFP
  详细描述：Linking Addressable Scan Ports IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：SN74LVT8986PM
  仓库库存编号：296-14928-5-ND
  别名：296-14928-5
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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  IC EMBEDDED TEST BUS CTRL 24SOIC
  详细描述：Embedded Test-Bus Controllers IC 24-SOIC
  
  型号：SN74LVT8980AIDWREP
  仓库库存编号：296-22384-1-ND
  别名：296-22384-1
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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• Texas Instruments
  IC 10B ADDRSBL SCAN PORT 24TSSOP
  详细描述：Addressable Scan Ports IC 24-TSSOP
  
  型号：SN74LVT8996IPWREP
  仓库库存编号：296-22385-1-ND
  别名：296-22385-1
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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• Texas Instruments
  IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：SN74LVTH18646APM
  仓库库存编号：296-8703-ND
  别名：296-8703
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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  IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：SN74LVTH182652APM
  仓库库存编号：296-14323-ND
  别名：296-14323
  74LVTH182652APMG4
  74LVTH182652APMG4-ND
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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  IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：SN74LVTH18652APM
  仓库库存编号：296-12994-5-ND
  别名：296-12994-5
  SN74LVTH18652APMG4
  SN74LVTH18652APMG4-ND
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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  IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP
  
  型号：8V182512IDGGREP
  仓库库存编号：296-22075-1-ND
  别名：296-22075-1
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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• Texas Instruments
  IC 20BIT UNIV BUS TXRX 64-LQFP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：74LVTH182504APMG4
  仓库库存编号：74LVTH182504APMG4-ND
  
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  IC 10-BIT SCAN PORT XCVR 24-SOIC
  详细描述：Addressable Scan Ports IC 24-SOIC
  
  型号：SN74LVT8996DWR
  仓库库存编号：296-8656-2-ND
  别名：296-8656-2
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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  IC TEST-BUS CONTROLLER 24-SOIC
  详细描述：Embedded Test-Bus Controllers IC 24-SOIC
  
  型号：SN74LVT8980ADWR
  仓库库存编号：296-15986-2-ND
  别名：1L8980ADWRG4
  1L8980ADWRG4-ND
  296-15986-2
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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  IC TEST-BUS CONTROLLER 24-SOIC
  详细描述：Embedded Test-Bus Controllers IC 24-SOIC
  
  型号：SN74LVT8980ADWRG4
  仓库库存编号：SN74LVT8980ADWRG4-ND
  
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  IC LINK ADDRSS SCAN-PORT 64-BGA
  详细描述：Linking Addressable Scan Ports IC 64-BGA MICROSTAR (8x8)
  
  型号：SN74LVT8986ZGV
  仓库库存编号：SN74LVT8986ZGV-ND
  
  规格：电源电压 2.7 V ~ 3.6 V,
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  IC 10-BIT SCAN PORT XCVR 24-SOIC
  详细描述：Addressable Scan Ports IC 24-SOIC
  
  型号：SN74LVT8996DW
  仓库库存编号：296-8656-5-ND
  别名：296-8656-5
  CLVT8996DWG4
  CLVT8996DWG4-ND
  
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  IC TEST-BUS CONTROLLER 24-SOIC
  详细描述：Embedded Test-Bus Controllers IC 24-SOIC
  
  型号：SN74LVT8980ADW
  仓库库存编号：296-13498-5-ND
  别名：296-13498-5
  
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  IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：SN74LVTH182646APM
  仓库库存编号：SN74LVTH182646APM-ND
  别名：74LVTH182646APMG4
  74LVTH182646APMG4-ND
  
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  IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：SN74LVTH18646APMG4
  仓库库存编号：SN74LVTH18646APMG4-ND
  
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  IC LINK ADDRSS SCAN-PORT 64-BGA
  详细描述：Linking Addressable Scan Ports IC 64-BGA MICROSTAR (8x8)
  
  型号：SN74LVT8986GGV
  仓库库存编号：296-14927-5-ND
  别名：296-14927-5
  
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