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• Texas Instruments
  IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：SN74LVTH18646APM
  仓库库存编号：296-8703-ND
  别名：296-8703
  
  规格：逻辑类型 ABT 扫描测试设备，带收发器和寄存器,
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• Texas Instruments
  IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：SN74LVTH182652APM
  仓库库存编号：296-14323-ND
  别名：296-14323
  74LVTH182652APMG4
  74LVTH182652APMG4-ND
  
  规格：逻辑类型 ABT 扫描测试设备，带收发器和寄存器,
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• Texas Instruments
  IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：SN74LVTH18652APM
  仓库库存编号：296-12994-5-ND
  别名：296-12994-5
  SN74LVTH18652APMG4
  SN74LVTH18652APMG4-ND
  
  规格：逻辑类型 ABT 扫描测试设备，带收发器和寄存器,
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• Texas Instruments
  IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：SN74LVTH182646APM
  仓库库存编号：SN74LVTH182646APM-ND
  别名：74LVTH182646APMG4
  74LVTH182646APMG4-ND
  
  规格：逻辑类型 ABT 扫描测试设备，带收发器和寄存器,
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  IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
  详细描述：ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
  
  型号：SN74LVTH18646APMG4
  仓库库存编号：SN74LVTH18646APMG4-ND
  
  规格：逻辑类型 ABT 扫描测试设备，带收发器和寄存器,
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