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74ABTH18504APMRG4 - 

IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP

  • 已过时的产品。
Texas Instruments 74ABTH18504APMRG4
声明：图片仅供参考，请以实物为准！
制造商产品编号：
74ABTH18504APMRG4
仓库库存编号：
74ABTH18504APMRG4-ND
描述：
IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
ROHS：
无铅 / 符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求
湿气敏感性等级（MSL）：
3（168 小时）
详细描述：
Scan Test Universal Bus Transceiver 20-Bit 64-LQFP (10x10)
订购热线： 400-900-3095  0755-21000796, QQ:800152669, Email:sales@szcwdz.com
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74ABTH18504APMRG4产品属性


产品规格
  封装/外壳  64-LQFP  
  制造商  Texas Instruments  
  安装类型  表面贴装  
  工作温度  -40°C ~ 85°C  
  系列  74ABTH  
  包装  带卷（TR）   
  零件状态  过期  
  电压 - 电源  4.5 V ~ 5.5 V  
  供应商器件封装  64-LQFP（10x10）  
  电路数  20 位  
  逻辑类型  扫描测试通用总线收发器  
  电流 - 输出高，低  32mA，64mA  
关键词         

产品资料
标准包装 1,000

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参考价格及参考库存
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型号 制造商 描述 操作
74ABTH18504APMRG4
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Specialty Function Logic Scan Test Devices

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Texas Instruments - 74ABTH18504APMRG4 - IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP		Texas Instruments
IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
详细描述：Scan Test Universal Bus Transceiver 20-Bit 64-LQFP (10x10)

型号：74ABTH18504APMRG4
仓库库存编号：74ABTH18504APMRG4-ND
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Texas Instruments		特定功能逻辑 Scan Test Devices
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